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產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST

高低溫試驗箱

簡要描述:

高低溫試驗箱對于散熱試驗樣品的試驗,其散熱功率不能超過試驗箱制冷量,因制冷量為動態(tài)值,其隨溫度點變化而有所變化,同時,較高溫度也會因散熱產(chǎn)品帶來熱量須冷卻平衡時引起凝露而受到影響。

更新時間:2022-09-20
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  隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展,電工、電子等產(chǎn)品的應(yīng)用域日益廣闊,所經(jīng)受的環(huán)境條件也愈來愈復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件,正確地選擇產(chǎn)品的環(huán)境防護(hù)措施,才能保證產(chǎn)品在儲存運輸中免遭損壞,在使用過程中安全可靠。因而,電工、電子產(chǎn)品進(jìn)行人工模擬環(huán)境試驗是保證其高質(zhì)量的重要環(huán)節(jié)。人工模擬環(huán)境試驗是實際環(huán)境影響的科學(xué)概括,具有典型化、規(guī)范化、使用方便、便于比較等特點,環(huán)境條件的多樣化和環(huán)境試驗的重要性也對環(huán)境試驗設(shè)備提出了更嚴(yán)格的要求。
  高低溫試驗箱適用于考核和確定電工電子產(chǎn)品或其他材料產(chǎn)品在溫度變化下,對產(chǎn)品(整機)、零部件材料進(jìn)行高溫、低溫定值試驗,以及滿足本設(shè)備技術(shù)參數(shù)的溫度降溫速率,可用于散熱試驗樣品和非散熱試驗樣品的試驗。對于散熱試驗樣品的試驗,其散熱功率不能超過試驗箱制冷量,因制冷量為動態(tài)值,其隨溫度點變化而有所變化,同時,較高溫度也會因散熱產(chǎn)品帶來熱量須冷卻平衡時引起凝露而受到影響。

一、規(guī)格與型號

設(shè)備名稱

低溫試驗箱、高低溫試驗機、低溫箱

注    明

1、以下設(shè)備數(shù)據(jù)均需在環(huán)境溫度(QT)25℃.工作室無負(fù)載條件下測得;
2、可根據(jù)用戶的具體要求定做各種非標(biāo)型

型   號

GDW-100

GDW-225

GDW-500

GDW-800

GDW-010

工作室

尺寸

450×450

×500

500×600

×750

700×800

×900

800×1000

×1000

1000×1000

×1000

外形尺寸

950×900

×1620

1000×1150×1870

1250×1350×2050

1450×1550×2200

1450×1580

×2280

功率(kw)

A/B/C/D/E

3.0/4.0/4.5/6.0

3.5/5.0/5.5/ 6.5

6.0/7.0/7.5/ 8.5

7.0/9.0/11.0/12.5

9.0/10.0/11.5/13.0

標(biāo)

溫度范圍

A: 0℃~150℃  B: -20℃~150℃  C: -40℃~150℃  D:-60℃~150℃ E: -70℃~150℃

波動/均勻度

 

±0.5℃/±2℃

升溫速率

1~3℃/min

降溫速率

0.7~1℃/min

溫度運行控制系統(tǒng)

控制儀

  1. 數(shù)顯液晶微電腦溫控儀;
  2. 進(jìn)口數(shù)顯集成微電腦溫控儀;

輸出方式

脈沖式固態(tài)繼電器(PID%2BSSR)輸出;

傳感器

鉑電阻 PT100Ω/MV

加熱系統(tǒng)

耐高溫磁架鎳鉻合電加熱式加熱器

制冷系統(tǒng)

1、全封閉風(fēng)冷單級壓縮制冷方式

2、全封閉風(fēng)冷復(fù)迭壓縮制冷方式原裝法“泰康”

保護(hù)系統(tǒng)

漏電、短路、超溫、電機過熱、壓縮機超壓、過載、過電流保護(hù)

定時功能

      0.1~999.9(S、M、H)可調(diào),停電記憶、一鍵恢復(fù)功能

設(shè)備材料配置

外形材料

碳素鋼板.磷化靜電噴塑處理

內(nèi)膽材料

SUS304不銹鋼拉絲線條板

門框密封

雙層耐高低溫老化硅橡膠門密封條

標(biāo)準(zhǔn)配置

不銹鋼樣品架2個、測試引線孔(Ø50、Ø80、Ø100mm)1套

               

 

二、參 照 標(biāo) 準(zhǔn)

  GB10589-2006    低溫試驗箱技術(shù)條件 

  GB10592-2008    技術(shù)條件

  GB11158-2006    高溫試驗箱技術(shù)條件 

  GB/T2423.1-2001  試驗A:低溫試驗方法

  GB/T2423.2-2001 試驗B:高溫試驗方法

  GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備

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